АкушерствоАнатомияАнестезиологияВакцинопрофилактикаВалеологияВетеринарияГигиенаЗаболеванияИммунологияКардиологияНеврологияНефрологияОнкологияОториноларингологияОфтальмологияПаразитологияПедиатрияПервая помощьПсихиатрияПульмонологияРеанимацияРевматологияСтоматологияТерапияТоксикологияТравматологияУрологияФармакологияФармацевтикаФизиотерапияФтизиатрияХирургияЭндокринологияЭпидемиология

VII. Э л е к т р о н н о - з о н д о в ы й м и к р о а н а л и з и м и к р о с к о п и я

1. Zworykin V.K. et al. Electron Optics and the Electron Microscope. New York: Wiley, 1945.

2. Глазер В. Основы электронной оптики. Пер. с нем. Под ред. В.А. Фабриканта. М.: Гостехиздат, 1957. 763 с.

3. Зинченко Н.С. Курс лекций по электронной оптике. Изд-во Харьковского университета, 1958. 275 с.

4. Cosslett V.E., Nixon W.C. X-Ray Microscopy. Cambridge University Press, 1960.

5. X-Ray Optics and X-Ray Microanalysis. Eds. Pattee U.U., Cosslett V.E., Engstrom A. New York: Academic Press. Inc., 1963. 622 p.

6. Birks L.S. Electron Probe Microanalysis. New York: Interscience, 1963.

7. Биркс Л.С. Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда. М.: Металлургия, 1966. 216 с.

8. Масленков С.Б. Применение микрорентгеноспектрального анализа. М.: Металлургия, 1968. 110 с.

9. Grouthamel C.E. Applied Gamma-Ray Spectrometry. Oxford: Pergamon Press, 1970. 757 p.

10. Боровский И.Б., Водоватов Ф.Ф., Жуков А.А., Черепин В.Т. Локальные методы анализа материалов. М.: Металлургия, 1973. 296 с.

11. Microprobe analysis // N.Y.: Wiley Interscience, 1973. 560 p.

12. Электронно-зондовый микроанализ. Под ред. И.Б.Боровского. М.: Мир, 1974. 260 с.

13. Reed S.J.B. Electron microprobe analysis. London: Cambridge Univ. Press, 1975. 400 p.

14. Васичев Б.Н. Электроннозондовый микроанализ тонких пленок. М.: Металлургия, 1977. 239 с.

15. Microanalyse et Microscopie Electronique а Balayage. Orsay: Les Editions de Phys., 1978. 534 p. Микроанализ и растровая электронная микроскопия. Пер. с франц. М.: Металлургия, 1985. 408 с.

16. Практическая растровая электронная микроскопия. Ред. Дж.Гоулдс-тейна и Х.Яковица. Пер. с англ. М.: Мир, 1978. 656 с.

17. Конников С.Г., Сидоров А.Ф. Электроннозондовые методы исследования полупроводниковых материалов и приборов. М.: Энергия, 1978. 136 с.

18. Рид С. Электронно-зондовый микроанализ. М.: Мир, 1979. 423 с.

19. Гиммельфарб Ф.А., Шварцман С.Л. Современные методы контроля композиционных материалов. М.: Металлургия, 1979. 248 с.

20. Heinrich K.F.J. Electron Beam X-Ray Microanalysis. New York: Van Nos-trand Reinhold Co., 1981. 577 р.

21. Кальнер В.Д., Зильберман А.Г. Практика микрозондовых методов исс-ледования металлов и сплавов. М.: Металлургия, 1981. 215 с.

22. Томашпольский Ю.Я. Электронное зондирование сложных окислов металлов. М.: Металлургия, 1981. 136 с.

23. Черепин В.Т. Ионный зонд. Киев: Наукова думка, 1981. 327 с.

24. Батырев В.А. Рентгено-спектральный электроннозондовый микроанализ. М.: Металлургия, 1982. 152 с.

25. Гаранин В.К., Кудрявцева Г.П. Применение электронно-зондовых приборов для изучения минерального вещества. М.: Недра,1983.216 с.

26. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Пер. с англ. М.: Мир, 1984. Т. 1 - 303 с. Т. 2 - 348 с.

27. Микроанализ и растровая электронная микроскопия. Ред. Ф.Морис, Л.Мени, Р.Тиксье. М.: Металлургия, 1985. 408 с.

28. Количественный электронно-зондовый микроанализ. Под. ред. В. Cкотта и Г. Лава. Пер. с англ. М: Мир, 1986. 352 с.

29. Гаранин В.К. и др. Электронно-зондовые методы изучения минералов. М., изд-во МГУ, 1987. 231 с.

30. Рентгеновская оптика и микроскопия. Под ред. Шмаля Г. и Рудольфа Д. М. Пер. с англ.: Мир, 1987. 464 с.

31. Гимельфарб Ф.А. Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов. М.: Металлургия, 1988. 152 с.

32.Павлова Л.А., Парадина Л.Ф. Рентгеноспектральный микроанализ и его применение в минералогии. Якутск: ЯНЦ СО АН СССР, 1990. 186 с.

33. Чалых А.Е., Алиев А.Д., Рубцов А.Е. и др. Электронно-зондовый микроанализ в исследовании полимеров. М.: Наука, 1990. 192 с.

34. Лапутина И.П. Микрозонд в минералогии. М.: Наука, 1991. 139 с.

35. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis / Ed. J.I. Goldstein, D.E. Newbury, P. Echlin et al. New York: Plenum Press,1992. 820 p.

36. Goldstein J.I., Newbury D.E., Echlin P. et al. Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis: A text for biologists, material scientists, geologists. N.Y. London: Plenum Press, 1992. 820 p.

37.Тронева Н.В., Тронева М.А. Электронно-зондовый микроанализ не-однородных поверхностей (в свете теории распознавания образов). М.: Металургия, 1996. 205 с.

38. Павлова Л.А., Белозерова О.Ю., Парадина Л.Ф., Суворова Л.Ф. Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных и экологических объектов. Новосибирск: Наука, 2000, 223 с.

Дата добавления: 2015-09-03 | Просмотры: 486 | Нарушение авторских прав