 |
|
АкушерствоАнатомияАнестезиологияВакцинопрофилактикаВалеологияВетеринарияГигиенаЗаболеванияИммунологияКардиологияНеврологияНефрологияОнкологияОториноларингологияОфтальмологияПаразитологияПедиатрияПервая помощьПсихиатрияПульмонологияРеанимацияРевматологияСтоматологияТерапияТоксикологияТравматологияУрологияФармакологияФармацевтикаФизиотерапияФтизиатрияХирургияЭндокринологияЭпидемиология |
Основные области применения сканирующего ионного микроскопа
Сканирующий ион-проводящий микроскоп Сканирующая микроскопия ионной проводимости используется для получения топографических изображений поверхности образца, погруженного в проводящую жидкость (обычно, в физиологический буфер). Сканирующий зонд, который представляет собой стеклянную или кварцевую нанопленку, заполненную электролитом, измеряет ток ионов, проходящий через его наконечник. Значение тока ограничено диаметром отверстия наконечника и определяется разницей потенциалов между обратимыми Ag / AgCl электродами, один из которых находится внутри пипетки, а другой погружен в емкость с образцом. Значение тока снижается при приближении к поверхности образца. В процессе растрового сканирования, расстояние между пипеткой и образцом поддерживается путем обратной связи, основанной на измерении силы тока, что предотвращает непреднамеренный контакт зонда с образцом. Заключение В данной работе были представлены преимущества сканирующей ионной микроскопии и рассмотрен принцип работы cсканирующего ионного микроскопа и ион-проводящего микроскопа. Данная тема не теряет актуальности, так как множество исследований во множестве областей ведутся именно на данных приборах. К тому же, технология, положенная в основу сканирующей ионной микроскопии постоянно совершенствуется. Список использованной литературы 1. http://nano.spbu.ru/index.php/ru/equipment/orion 2. http://lib.znate.ru/docs/index-233057.html?page=9 Дата добавления: 2015-09-03 | Просмотры: 628 | Нарушение авторских прав |