АкушерствоАнатомияАнестезиологияВакцинопрофилактикаВалеологияВетеринарияГигиенаЗаболеванияИммунологияКардиологияНеврологияНефрологияОнкологияОториноларингологияОфтальмологияПаразитологияПедиатрияПервая помощьПсихиатрияПульмонологияРеанимацияРевматологияСтоматологияТерапияТоксикологияТравматологияУрологияФармакологияФармацевтикаФизиотерапияФтизиатрияХирургияЭндокринологияЭпидемиология
|
Исследования дислокаций
Методы, позволяющие наблюдать за отдельными дефектами кристаллической решетки, появились в конце 30-х годов ХХ столетия, и с тех пор непрерывно совершенствуются.
Электронная микроскопия. Электронный луч, проходя через образец, отклоняется в области дефекта, причем тем больше, чем сильнее искажение решетки. Вследствие этого на экране, чувствительном к электронным лучам, возникает изображение, по виду которого можно восстановить тип и конфигурацию дефекта. Наиболее простые изображения у дислокаций. Они видны, как тени от нитей (рис. 3.38). Если имеется несколько фотографий одного и того же места, сделанных под различными углами, то можно восстановить всю пространственную конфигурацию дислокации. Есть определенные (по отношению к вектору Бюргерса) углы, при которых изображения дислокации исчезают. Такие фотографии позволяют определить вектор Бюргерса дислокации.
Дата добавления: 2015-09-18 | Просмотры: 454 | Нарушение авторских прав
1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 | 21 | 22 | 23 | 24 | 25 | 26 | 27 | 28 |
|